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掃描式凱爾文探針表面電位量測系統

【決標階段】中央研究院 的標案「掃描式凱爾文探針表面電位量測系統」 已於 115/08/11 完成決標程序。 本頁面提供完整的決標結果資訊,包括得標廠商名單、決標金額、底價等詳細資料。

您可以透過本頁面查詢決標詳情、得標廠商資訊及預算執行狀況,作為未來投標策略參考。本案已完成採購程序。

決標資訊

115/08/11
<財物類> 449 其他特殊用途之機具及其零件
掃描式凱爾文探針表面電位量測系統
中央研究院
關鍵議題研究中心

招標資訊

掃描式凱爾文探針表面電位量測系統
<財物類> 449 其他特殊用途之機具及其零件
關鍵議題研究中心
115 臺北市 南港區 研究院路二段128號